ข้าพเจ้า อ.ดร.สุรศักดิ์ กุยมาลี พนักงานมหาวิทยาลัย ตำแหน่ง อาจารย์ สังกัดหลักสูตรวิทยาศาสตรบัณฑิต สาขาวิชาเคมีอุตสาหกรรมและเทคโนโลยีสิ่งทอ ขอนำเสนอประโยชน์จากการเข้าร่วมการประชุมวิชาการประจำปีของสมาคมจุลทรรศน์แห่งประเทศไทย ครั้งที่ 34 (The 34th Annual Conference of the Microscopy Society of Thailand) ระหว่างวันที่ 31 พฤษภาคม ถึง 2 มิถุนายน 2560 ณ โรงแรมแกรนด์ เมอร์เคียว กรุงเทพ ฟอร์จูน จังหวัดกรุงเทพมหานคร ซึ่งการเข้าร่วมประชุมวิชาการดังกล่าว ข้าพเจ้าได้สรุปเนื้อหาและการนำไปใช้ประโยชน์ของการเข้าร่วมประชุมวิชาการ ดังต่อไปนี้ สามารถเพิ่มพูนความรู้ในเรื่องเทคนิคการวิเคราะห์และเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง โดยในปัจจุบันมีการพัฒนาเทคนิคในการวิเคราะห์งานทางด้านวิทยาศาสตร์กายภาพ วัสดุศาสตร์ ตลอดจนการศึกษาทางด้านวิทยาศาสตร์ชีวภาพ ด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) สำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุทั้งในระดับไมโครเมตรและนาโนเมตร ด้วยเทคนิคแบบรูปการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนแบบเลือกพื้นที่( SADP) และแบบรูปการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนแบบมุมสอบ (CBED) ในกล้อง TEM การวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (EBSD) ในกล้อง SEM เทคนิเทคนิคการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) การวิเคราะห์โครงสร้างหรือพื้นผิวด้วยเทคนิค Soft X-ray photoelectron spectroscopy (SXPS) ตลอดจนเทคนิคการวิเคราะห์ธาตุองค์ประกอบด้วยเทคนิคการกระจายพลังงานของรังสีเอกซ์ (EDS) และการกระจายความยาวคลื่นของรังสีเอกซ์ (WDS) เป็นต้น นอกจากนี้ยังได้เพิ่มพูนความรู้ด้านการเตรียมตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์ เช่น เทคนิค Focus ion beam (FIB) โดยใช้แหล่งกำเนิดไอออนจากฮีเลียมซึ่งได้มีการพัฒนามาจากแกลเลียม ทั้งนี้สามารถเตรียมตัวอย่างได้รวดเร็วขึ้นขึ้นและเสียค่าใช้จ่ายในการดูแลรักษาที่ต่ำลง